Spektrofotometer des neuen Modells TS7600 für Plastik

May 28, 2020
Neueste Unternehmensnachrichten über Spektrofotometer des neuen Modells TS7600 für Plastik

Ein Kunde in der Plastikfabrik kam zu unserem Büro, unsere Spektrofotometerleistung des neuen Produktes TS7600 zu überprüfen und sie sagten in hohem Grade gesprochen von TS7600. Es ist sehr Genauigkeit und sind Ebene oder die Spitzenöffnungen sehr gut, damit verschiedene Proben messen.

 

Handspektrofotometer 3nh TS7600 für Plastik

 

Special die QC-Software ist sehr gut, viele zu tun Farbtest und es schließt pantone Cu-Farbcodes in der Software ein, dass wir die beste Farbe mit pantone finden können. Diese Funktion ist sehr erstaunlich. Sie mögen es sehr.

 

Handspektrofotometer-Software 3nh TS7600

 

Der beste wichtige Aspekt, warum sie ihn sind das Testergebnis sind sehr sehr nah zu CM-700D kaufen, das sehr teuer ist und wenige Funktionen.

 

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Hier ist es Spezifikation des Spektrofotometers TS7600.

 

Modell Spektrofotometer TS7600
Optische Geometrie Reflektieren Sie sich: Di: 8°, De: 8° (zerstreute Beleuchtung, 8-Grad-Betrachtungswinkel)
SCI (Spiegelkomponente eingeschlossen) /SCE (Spiegelkomponente ausgeschlossen); ausschließliche UV-Licht-Quelle
Passt sich an CIE No.15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 an
Charakteristisch Besonders angefertigt einer Öffnung, wird ihm für genaue Farbmessung und Qualitätskontrolle in der Plastikelektronik, Farbe und Tinte, Gewebe und Kleiderdrucken und -c$färben, Druck, Keramik und andere Industrien und für Leuchtstoffbeispielmaß verwendet.
Integrierungs-Bereich-Größe Φ40mm
Lichtquelle Kombinierte volle Lichtquelle des Spektrums LED, UV-Licht-Quelle
Spektralphotometrischer Modus Flach zerreibend
Senso Silikonfotodiodenreihe (doppelte Reihe 40 Gruppen)
Wellenlängenbereich 400~700nm
Wellenlängen-Abstand 10nm
Semiband-Breite 10nm
Gemessene Reflexionsvermögen-Strecke 0-200%
Messende Öffnung Besonders angefertigt einer Öffnung: MAV: Φ8mm/Φ10mm; SAV: Φ4mm/Φ5mm
Spiegelkomponente SCI&SCE
Farbraum Cie-LABOR, XYZ, Yxy, LCh, CIE LUV, s-RGB, βxy, Munsell (C/2)
Farbunterschied-Formel ΔE*ab, ΔE*uv, ΔE*94, ΔE*cmc (2: 1), ΔE*cmc (1: 1), ΔE*00
Anderer kolorimetrischer Index WI (ASTM E313, CIE/ISO, AATCC, Jäger),
YI (ASTM D1925, ASTM 313),
Festigkeit beflecken, Farbechtheit, Farbstärke, Opazität,
Glanz 8°,
Beobachter-Winkel 2°/10°
Leuchtkörper D65, A, C, D50, F2 (CWF), F7 (DLF), F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83/U30)
Angezeigte Daten Spektrogramm/Werte, Beispielfarbart-Werte, Farbunterschied-Werte/Diagramm, PASS-/FAILergebnis, Farbausgleich
Messdauer Über 1.5s (Maß SCI u. SCE über 3.2s)
Wiederholbarkeit Spektral-Reflexionsvermögen: MAV/SCI, Standardabweichung innerhalb 0,1% (400 Nanometer bis 700 Nanometer: innerhalb 0,2%)
Farbartwert: MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,04 (wenn eine weiße Kalibrierungsplatte 30mal in 5 zweiten Abständen nach weißer Kalibrierung gemessen wird)
Inter-Instrument Fehler MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,2
(Durchschnitt für 12 Fliesen BCRA-Reihe II Farb)
Maß-Modus Einzelnes Maß, durchschnittliches Maß (2-99times)
Lokalisieren von Methode